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ट्रांसफार्मर घुमावदार विकृति परीक्षक ट्रांसफार्मर परीक्षक SFRA आवृत्ति प्रतिक्रिया 10Hz-10MHz प्रतिबाधा विश्लेषक

ट्रांसफार्मर घुमावदार विकृति परीक्षक ट्रांसफार्मर परीक्षक SFRA आवृत्ति प्रतिक्रिया 10Hz-10MHz प्रतिबाधा विश्लेषक

उत्पाद का विवरण:
उत्पत्ति के प्लेस: चीन
ब्रांड नाम: XZH Test
प्रमाणन: CE, ISO
मॉडल संख्या: एक्सएचबीएक्स1502
विस्तृत जानकारी
उत्पत्ति के प्लेस:
चीन
ब्रांड नाम:
XZH Test
प्रमाणन:
CE, ISO
मॉडल संख्या:
एक्सएचबीएक्स1502
प्रतिरूप संख्या।:
एक्सएचबीएक्स1502
शक्ति:
बिजली
स्वनिर्धारित:
स्वनिर्धारित
रंग:
चाँदी
परिवहन पैकेज:
निर्यातित लकड़ी का मामला
ट्रेडमार्क:
XZH परीक्षण
मूल:
चीन
आपूर्ति की क्षमता:
2000 पीसी/वर्ष
पैकेज का आकार:
45.00सेमी * 36.00सेमी * 25.00सेमी
पैकेज सकल वजन:
50.000 किग्रा
अनुकूलन:
उपलब्ध
बिक्री के बाद सेवा:
बिक्री के बाद सीरिव
गारंटी:
12 महीने
शिपिंग लागत:
माल ढुलाई और अनुमानित डिलीवरी समय के बारे में आपूर्तिकर्ता से संपर्क करें।
 :
USD में सहायता भुगतान
सुरक्षित भुगतान:
आपके द्वारा किए गए प्रत्येक भुगतान को Made-n-china.com पर प्लेटफ़ॉर्म द्वारा संरक्षित किया जाता है।
भुगतान वापसी की नीति:
यदि आपका ऑर्डर शिप नहीं होता है, गुम हो जाता है, या उत्पाद समस्याओं के साथ आता है तो रिफंड का दावा क
प्रमुखता देना:

High Light

प्रमुखता देना:

ट्रांसफार्मर के लिए SFRA विश्लेषक

,

अनुकूलित ट्रांसफार्मर SFRA परीक्षक

,

चांदी की स्वीप आवृत्ति विश्लेषक

Trading Information
न्यूनतम आदेश मात्रा:
1unit
मूल्य:
बातचीत योग्य
पैकेजिंग विवरण:
लकड़ी का बक्सा
प्रसव के समय:
5-8work दिन
भुगतान शर्तें:
टी/टी
आपूर्ति की क्षमता:
2000 यूनिट/वर्ष
उत्पाद का वर्णन

XHBX1502


उत्पाद विवरण


XHBX1502 ट्रांसफार्मर वाइंडिंग डिफॉर्मेशन टेस्टर (आवृत्ति प्रतिक्रिया विधि) का उपयोग 6KV और उससे ऊपर के पावर ट्रांसफार्मर और अन्य विशेष उद्देश्य ट्रांसफार्मर का परीक्षण करने के लिए किया जाता है।
XHBX1502 ट्रांसफार्मर वाइंडिंग डिफॉर्मेशन टेस्टर राष्ट्रीय विद्युत उद्योग मानक DL/T911-2004 के अनुसार ट्रांसफार्मर की वाइंडिंग डिफॉर्मेशन को मापने के लिए आवृत्ति प्रतिक्रिया विश्लेषण विधि का उपयोग करता है। यह ट्रांसफार्मर की प्रत्येक वाइंडिंग की आयाम-आवृत्ति प्रतिक्रिया विशेषताओं का पता लगाने और ऊर्ध्वाधर या क्षैतिज रूप से पता लगाने के परिणामों की तुलना करने के लिए है। आयाम-आवृत्ति प्रतिक्रिया विशेषता में परिवर्तन की डिग्री ट्रांसफार्मर वाइंडिंग में होने वाले डिफॉर्मेशन को निर्धारित करती है।
XHBX1502 ट्रांसफार्मर वाइंडिंग डिफॉर्मेशन टेस्टर (आवृत्ति प्रतिक्रिया विधि) में एक माप भाग और एक विश्लेषण सॉफ्टवेयर भाग होता है। माप भाग सिग्नल जनरेशन और सिग्नल माप से बना एक ब्लैक बॉक्स है। विश्लेषण भाग एक नोटबुक कंप्यूटर द्वारा पूरा किया जाता है, और माप भाग USB या नेटवर्क के माध्यम से नोटबुक कंप्यूटर से जुड़ा होता है।

उत्पाद पैरामीटर


मुख्य विशेषताएं
1. ट्रांसफार्मर का कवर खोले बिना और उसे अलग किए बिना परीक्षण किया जा सकता है।
2. मापने के लिए सबसे लोकप्रिय स्वीप विधि अपनाई गई है।
3. यह उपकरण 6kV से ऊपर के ट्रांसफार्मर को माप सकता है।
4. यह एक विभाजित संरचना का उपयोग करता है, परीक्षण होस्ट और होस्ट कंप्यूटर USB या नेटवर्क कनेक्शन द्वारा जुड़े हुए थे, इसे प्लग इन होने पर स्वतंत्र रूप से उपयोग किया जा सकता है।
5. फील्ड वायरिंग सरल है, उपयोग में आसान है।
6. मापन गतिशील रेंज: -120dB ~ +20dB।
7. विश्लेषण सॉफ्टवेयर शक्तिशाली है, और सॉफ्टवेयर और हार्डवेयर संकेतक राष्ट्रीय मानक DL/T911-2004 को पूरा करते हैं।
8. रैखिक या लॉगरिदमिक वितरण का उपयोग करके स्वीप माप।
9. प्रतिक्रिया चैनल में कई रेंज हैं और माप प्रक्रिया के दौरान स्वचालित रूप से रेंज समायोजित करता है।
XHBX1502
मुख्य तकनीकी पैरामीटर
1. परीक्षण होस्ट और पीसी पोर्ट: USB या नेटवर्क।
2. सिग्नल स्रोत: उपकरण में स्वीप आवृत्ति के उत्तेजना संकेत के रूप में एक चैनल सिग्नल आउटपुट है; सिग्नल आउटपुट एक मानक साइन वेव है, सिग्नल आउटपुट आयाम सॉफ्टवेयर द्वारा समायोजित किया जा सकता है, अधिकतम आयाम है ± 20V, और सिग्नल आउटपुट प्रतिबाधा 50Ω है।11. स्कैनिंग विधि: रैखिक वितरण या लॉगरिदमिक वितरण के साथ स्वीप माप विधि।4. उत्तेजना चैनल को एक निश्चित सीमा के रूप में मापा जाता है: ± 10V; प्रतिक्रिया चैनल में कई रेंज हैं, और माप प्रक्रिया के दौरान सीमा स्वचालित रूप से समायोजित की जाती है। अधिकतम इनपुट सिग्नल ± 25V है।हवा, समुद्र, एक्सप्रेस, आदि द्वाराशिपिंग समय:
7. प्रति चैनल अधिकतम भंडारण क्षमता: 64K नमूने।
8. प्रति चैनल उच्चतम नमूना दर: 20Msps।11. स्कैनिंग विधि: रैखिक वितरण या लॉगरिदमिक वितरण के साथ स्वीप माप विधि।10. स्वीप परीक्षण सीमा: 10Hz-10MHz।11. स्कैनिंग विधि: रैखिक वितरण या लॉगरिदमिक वितरण के साथ स्वीप माप विधि।12. स्कैनिंग आवृत्ति सटीकता: सिग्नल स्रोत आउटपुट साइनसोइडल सिग्नल की आवृत्ति सटीकता 0.005% से अधिक नहीं है।
13. स्वीप परीक्षण आवृत्ति: निश्चित मोड या उपयोगकर्ता-परिभाषित।
14. राष्ट्रीय विद्युत उद्योग मानकों को पूरा करता है: DL/T911-2004।
पैकेजिंग:
फोम से भरा लकड़ी का केस
शिपिंग:हवा, समुद्र, एक्सप्रेस, आदि द्वाराशिपिंग समय:
यदि स्टॉक में है तो 7-15 दिन।
डुअल मेथड टेक्निकल डेटा (2025 मैनुअल)
विधि
पैरामीटर
विनिर्देश

आवृत्ति प्रतिक्रिया (SFRA)स्वीप रेंज

10Hz - 10MHz, 40000 स्वीप पॉइंट, रिज़ॉल्यूशन 0.25kHz / 0.5kHz / 1kHzआयाम रेंज

-120dB से +20dBआयाम सटीकता

0.1dB
स्वीप आवृत्ति सटीकता 0.005% सिग्नल आउटपुट / इनपुट प्रतिबाधा
आउटपुट ±20V, आउटपुट प्रतिबाधा 50Ω, इनपुट प्रतिबाधा 1MΩ समान-चरण पुनरावृत्ति 99.9%
प्रतिबाधा (शॉर्ट-सर्किट) माप सटीकता
वोल्टेज 0.2 वर्ग, करंट 0.2 वर्ग प्रतिबाधा रेंज
0 - 100% वोल्टेज रेंज
AC 25V - 500V करंट रेंज
AC 0.1A - 10A ऑपरेटिंग आर्द्रता
0 - 80% इकाई आकार / वजन 340 x 240 x 210 मिमी / 20 किग्रा
सिस्टम और अनुपालन हाई-स्पीड डुअल-चैनल 16-बिट A/D अधिग्रहण, नोटबुक पीसी से USB कनेक्शन, स्वचालित वर्ड रिपोर्ट जनरेशन, बिल्ट-इन 220V या बाहरी बिजली की आपूर्ति, DL/T911-2004 और DL/T1093-2008 के अनुरूप
लक्षित दर्शक पावर ग्रिड कंपनियों और सबस्टेशन ऑपरेशन इकाइयों के लिए इंजीनियर किया गया जो अनिवार्य पोस्ट-शॉर्ट-सर्किट वाइंडिंग डिफॉर्मेशन मूल्यांकन, ट्रांसफार्मर निर्माताओं के फैक्ट्री स्वीकृति और बिक्री के बाद सत्यापन विभागों, बड़े औद्योगिक बिजली उपयोगकर्ताओं के सबस्टेशन कमीशनिंग टीमों, और तीसरे पक्ष के विद्युत परीक्षण संस्थानों द्वारा DL/T911-2004 और DL/T1093-2008 अनुपालन निरीक्षण करने के लिए करते हैं। एक ही उपकरण में आवृत्ति प्रतिक्रिया और निम्न-वोल्टेज शॉर्ट-सर्किट प्रतिबाधा विधियों दोनों की विशेषता, XHBX1502 को नियामक वाइंडिंग डिफॉर्मेशन निदान के लिए एक व्यापक दोहरी-सत्यापन समाधान के रूप में तैनात किया गया है, जो एक ही श्रेणी के एकल-विधि SFRA विश्लेषक और नियमित तेल परीक्षण उपकरणों से अलग है।
अक्सर पूछे जाने वाले प्रश्न Q1. XHBX1502 कौन सी परीक्षण विधियों का समर्थन करता है?
यह दो पूरक विधियों का समर्थन करता है: DL/T911-2004 प्रति आवृत्ति प्रतिक्रिया विश्लेषण (FRA/SFRA) विधि, और DL/T1093-2008 प्रति निम्न-वोल्टेज शॉर्ट-सर्किट प्रतिबाधा विधि। दोहरी-विधि सत्यापन वाइंडिंग डिफॉर्मेशन निर्णय की सटीकता में काफी सुधार करता है। Q2. आवृत्ति प्रतिक्रिया विधि की मुख्य विशिष्टताएं क्या हैं?
40000 स्वीप पॉइंट और 0.25kHz/0.5kHz/1kHz रिज़ॉल्यूशन के साथ 10Hz - 10MHz की स्वीप रेंज, 0.1dB सटीकता के साथ -120dB से +20dB का आयाम माप रेंज, 0.005% की स्वीप आवृत्ति सटीकता, सिग्नल आउटपुट ±20V, और 99.9% की समान-चरण पुनरावृत्ति। Q3. प्रतिबाधा विधि की मुख्य विशिष्टताएं क्या हैं?
वोल्टेज और करंट की माप सटीकता 0.2 वर्ग है, प्रतिबाधा रेंज 0 - 100% है, वोल्टेज रेंज AC 25V - 500V है, करंट रेंज AC 0.1A - 10A है, जिसमें A/B/C तीन-चरण समानता और नेमप्लेट शॉर्ट-सर्किट प्रतिबाधा की स्वचालित तुलना शामिल है। Q4. उपकरण किन मानकों और विनियमों का अनुपालन करता है?
यह आवृत्ति प्रतिक्रिया विश्लेषण के लिए DL/T911-2004 और प्रतिबाधा विधि के लिए DL/T1093-2008 को पूरी तरह से पूरा करता है, और राष्ट्रीय ग्रिड विरोधी दुर्घटना उपायों में निर्दिष्ट 110kV और उससे ऊपर के ट्रांसफार्मर के लिए अनिवार्य पोस्ट-शॉर्ट-सर्किट वाइंडिंग डिफॉर्मेशन परीक्षण आवश्यकताओं का समर्थन करता है।

Q5. पूर्ण सिस्टम में क्या शामिल है, और कौन सी बिक्री के बाद सेवा प्रदान की जाती है?

सिस्टम में मुख्य माप इकाई, नोटबुक पीसी सॉफ्टवेयर, तीन समर्पित माप केबल, ग्राउंडिंग लीड और परीक्षण क्लैंप शामिल हैं, जिसमें USB संचार और स्वचालित वर्ड रिपोर्ट जनरेशन शामिल है। वारंटी: 3 महीने के भीतर प्रतिस्थापन, 1 वर्ष के भीतर मुफ्त मरम्मत, और उसके बाद भुगतान जीवनकाल रखरखाव।

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