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आर्मर लेयर शॉर्ट सर्किट दोष

2025-11-10

के बारे में नवीनतम कंपनी समाचार आर्मर लेयर शॉर्ट सर्किट दोष

शान्क्सी प्रांत में एक फोटोवोल्टिक पावर प्लांट, जो गर्मियों के दौरान अपने चरम पर संचालित होना चाहिए था, एक महत्वपूर्ण केबल में खराबी के कारण बंद हो गया। एक YJV 3*120-800V बख्तरबंद कम-वोल्टेज केबल, जो पावर प्लांट की "धमनी" की तरह था, 1335 मीटर लंबा था, जो जमीन के नीचे गहरा दफन था, जो फोटोवोल्टिक पैनलों को ट्रांसफार्मर सबस्टेशन से जोड़ता था। जब चरण B के बीच कवच परत में कम-प्रतिरोध शॉर्ट सर्किट हुआ (इंसुलेशन प्रतिरोध 0MΩ, कवच प्रतिरोध केवल 3Ω), तो बिजली उत्पादन का नुकसान हर घंटे जमा होता गया, जिससे तत्काल मरम्मत आवश्यक हो गई! क्या आपके केबलों को कभी इसी तरह की "समस्या" का अनुभव हुआ है?

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चरण 1: दोष के प्रकार का निर्धारण करें


XHMR-5kV इंसुलेशन प्रतिरोध परीक्षक की 1000V रेंज का उपयोग करते हुए, चरण A, B और C के साथ-साथ सभी चरण-से-चरण और चरण-से-ग्राउंड इंसुलेशन का इंसुलेशन प्रतिरोध मापा गया। चरण A और C दोनों ने 1 GΩ से ऊपर प्रतिरोध दिखाया, जबकि चरण B ने 0 MΩ दिखाया, जिसमें चरण-से-चरण इंसुलेशन 1 GΩ से ऊपर था। चरण B पर कवच परत का एक बाद का मल्टीमीटर परीक्षण 3 Ω का प्रतिरोध दिखाता है।

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चरण 2: केबल की लंबाई का परीक्षण करें

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चरण 3: केबल दोषों का मोटा पता लगाना

1. फोटोवोल्टिक क्षेत्र के चरण B पर कम-वोल्टेज पल्स परीक्षण का उपयोग करते हुए, एक शॉर्ट-सर्किट तरंगरूप प्राप्त किया गया, और मोटे तौर पर यह निर्धारित किया गया कि दोष बिंदु परीक्षण सिरे से लगभग 30 मीटर दूर था।

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2. फिर, फोटोवोल्टिक क्षेत्र में दोष की दूरी को मोटे तौर पर मापने और इसे फिर से पुष्टि करने के लिए उच्च-वोल्टेज फ्लैशओवर विधि का उपयोग करें।

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चरण 4: सटीक स्थिति

साइट पर केबल पथ स्पष्ट है। मुख्य इंसुलेशन दोष स्थान: ध्वनिक विधि और ध्वनिक-चुंबकीय उड़ान-समय विधि।

1. दोषपूर्ण चरण पर उच्च-वोल्टेज पल्स लागू करने के लिए एक एकीकृत XHHV512-12L उच्च-वोल्टेज पल्स जनरेटर का उपयोग करें।

2. ध्वनिक विधि और ध्वनिक-चुंबकीय उड़ान-समय विधि का उपयोग करके, मोटे माप सीमा के भीतर दोष को इंगित करने के लिए एक 503E लोकेटर का उपयोग करें।

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3. अंत में, दोष बिंदु परीक्षण सिरे से 30 मीटर दूर पाया गया।

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सारांश और साझा करना

1. कम-वोल्टेज केबल दोषों का पता लगाने के लिए, पल्स वोल्टेज उच्च वोल्टेज की तुलना में बहुत अधिक नहीं होना चाहिए, क्योंकि इससे दोष बिंदु पर निर्वहन ऊर्जा कम हो जाएगी, जिसके परिणामस्वरूप बहुत शांत निर्वहन ध्वनि होगी और सटीक स्थान अधिक कठिन हो जाएगा। समाधान उच्च-वोल्टेज स्रोत की धारिता को बढ़ाना है, जिससे दोष बिंदु पर निर्वहन ऊर्जा बढ़ जाती है और निर्वहन ध्वनि बढ़ जाती है।

2. कवच-से-ग्राउंड निर्वहन के कारण गलत निदान को रोकने के लिए कम-वोल्टेज दोषों के लिए कई परीक्षण विधियों का उपयोग करके बार-बार सत्यापन की आवश्यकता होती है। उपरोक्त दोषों के लिए, हमने कम-वोल्टेज पल्स विधि, उच्च-वोल्टेज फ्लैशओवर विधि, ध्वनिक विधि और ध्वनिक-चुंबकीय उड़ान-समय विधि का उपयोग किया।